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手性化合物絕對構型的X-射線衍射法(X-raydiffraction)

時間 : 2022-08-09 16:54:31 閱讀 : 275

普通的X-射線法(鉬靶)僅能構筑化合物的相對構型,不能區分對應異構體。如果分子中含有重原子(一般原子序數大于16)或在分子中引入一個重原子,就可用X-射線來測定該重原子的手性分子絕對構型。此外,通過引入另一個已知絕對構型的手性分子也可獲得結構的絕對構型。隨著技術的發展,采用CuKa作為入射光源的X-射線單晶CCD衍射儀,對于測定相對分子量在1000以下、含C、H、N、O原子有機分子的絕對構型已可實現了。


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在單晶結構分析中,目前國際公認表征絕對構型的參數稱為Flack 參數,當結構分析進入到最后的精修階段時,如果該參數等于或接近0,或其參數在± 0.3之內,那么一般認為絕對構型就被確定了。

采用單晶X-衍射法樣品用量少、測定迅速、結果可靠直觀,可以作為最終的立體構型的確定方法。但是由于測試的儀器價格昂貴,對單晶有嚴格要求,也限制了X-射線衍射法的應用。


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標題:手性化合物絕對構型的X-射線衍射法(X-raydiffraction)
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